2017年 夏の電子顕微鏡解析技術フォーラムに参加しました
2017/09/21
2017年8月25日から26日にセイコーエプソン本社エプソンホールにて開催された2017年 夏の電子顕微鏡解析技術フォーラムに参加しました.
藤居研究室からは,助教の宮澤知孝が発表をしました.
一般講演
「その場小角X線散乱と透過型電子顕微鏡による析出粒子の粗大化過程の評価」
宮澤知孝
Fujii・Lei Laboratory
School of Materials and Chemical Technology
Institute of Science Tokyo
2017/09/21
2017年8月25日から26日にセイコーエプソン本社エプソンホールにて開催された2017年 夏の電子顕微鏡解析技術フォーラムに参加しました.
藤居研究室からは,助教の宮澤知孝が発表をしました.
一般講演
「その場小角X線散乱と透過型電子顕微鏡による析出粒子の粗大化過程の評価」
宮澤知孝