2017年 夏の電子顕微鏡解析技術フォーラムに参加しました
2017/09/21
2017年8月25日から26日にセイコーエプソン本社エプソンホールにて開催された2017年 夏の電子顕微鏡解析技術フォーラムに参加しました．
藤居研究室からは，助教の宮澤知孝が発表をしました．
一般講演
「その場小角X線散乱と透過型電子顕微鏡による 析出粒子の粗大化過程の評価」
宮澤知孝
Fujii・Lei Laboratory
School of Materials and Chemical Technology
Tokyo Institute of Technology
2017/09/21
2017年8月25日から26日にセイコーエプソン本社エプソンホールにて開催された2017年 夏の電子顕微鏡解析技術フォーラムに参加しました．
藤居研究室からは，助教の宮澤知孝が発表をしました．
一般講演
「その場小角X線散乱と透過型電子顕微鏡による 析出粒子の粗大化過程の評価」
宮澤知孝